蔡司新型亚微米级三维X射线成像系统解锁锂离子电池内部的奥秘！
在新能源和再生能源市场飞速发展的今天，锂离子电池由于其工作电压高、质量轻、能量密度大等优点受到各行业的青睐。随着技术的发展，其应用领域正在从笔记本、手机等小型消费电子走向电动汽车、航空航天、能源等大型机械。
锂离子电池部件分为正负极材料、电解液、隔膜和包装；目前研究难点在于提高寿命和能量密度，确保安全性能。
得益于蔡司独有两级放大成像系统，蔡司Xradia Versa显微镜（XRM）在无损观察内部缺陷、正负极材料厚度、孔隙率的同时可以实现高分辨成像，这有助于企业和研究机构加速研发、提高生产效率和产品安全性能。
封装电池内部缺陷检测
X射线显微镜可用于封装样品内部缺陷无损检测，识别电池内部的缺陷、毛刺、杂质等质量问题，为优化工艺调整提供判断依据。
封装卷绕时，卷成的电芯应紧密、不松散。隔膜和正负极卷得越紧，内阻越小，但卷得过紧时会造成极片与隔膜湿润困难，致使放电容量变小；卷得太松会使极片在充放过程中发生过度膨胀，增大了内阻，降低了容量，缩短了循环寿命。上图中在正极转弯处出现裂纹，这会对锂离子的嵌入和脱嵌产生影响。
正极材料孔隙率分析
X射线显微镜可应用于电极材料孔隙率分析，协助提高电池能量密度。
左图为正极材料（18650镍酸锂）三维形貌，中间黑色部分为铝集流极；右图曲线为沿着箭头方向孔隙率与位置的关系。通过计算可以得出正极材料的平均孔隙率。
老化效应分析（充放电性能分析）
X射线显微镜可用于锂离子电池的寿命与老化分析，无损检测电池充放电循环前后内部结构变化。
对18650镍酸锂电池充放电100次，经过循环后电池容量下降约6% 。
使用蔡司X射线显微镜分别对电池充放电前后进行高分辨无损3D成像，可以观察到在经过充放电循环后，在电极材料外侧边缘出现裂纹，而在未循环电池中并未发现这些裂纹。
新型亚微米级三维X射线成像系统
基于高分辨率和衬度成像技术，蔡司Xradia Versa显微镜（XRM）大大拓展了亚微米级无损成像的研究界限。传统断层扫描技术依赖于单一几何放大，而XRM则采用光学和几何两级放大，同时使用可以实现更快亚微米级分辨率的高通量成像，最高空间分辨率可达到500nm。大工作距离下高分辨成像技术（RaaD）能够对尺寸更大、密度更高的样品（包括零件和设备）进行无损高分辨率3D成像。此外，可选配的平板探测器技术（FPX）能够对大体积样品进行快速宏观扫描，为样品内部感兴趣区域的扫描提供了定位导航。
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