看春“光” 就去2018年慕尼黑上海光博会
——展位号：W4-4102
伴随着现代光学技术与各个应用领域生产需求日益紧密的结合，各种光学检测仪器不断融入现代生产制造中，来应对复杂的二维、三维工件带来的检测挑战。原本需要手动一步一调整的检测，现在也可以“一键式测量”了。甚至能实现自动对焦及光照设定、可视化质量报告等。有一些光学扫描系统还可以便携出行，一台设备可以同时应对多种不同尺寸零件的检测任务等。
即将于上海开幕的2018年慕尼黑上海光博会上，将云集众多光学检测圈的大咖们，展会期间，W4展区特设为光学与光学制造展区，将展出光学特性测量、光学测量技术及仪器、光学传感器、光学检测系统应用、激光辅助测试测量系统。届时，蔡司工业测量旗下的光学家族成员也将重磅亮相，特邀您一同欣赏这幅别样春“光”。
2018年慕尼黑上海光博会
展期：2018年3月14日（周三）至 3月16日（周五）
地点：上海新国际博览中心，上海市浦东新区龙阳路2345号
蔡司工业测量展位号：W4-4102
展出方案：
1.多功能复合测量方案
2.三维无损CT测量方案
3.一键式高效测量方案
4.三维光学扫描检测系统
同期，蔡司光谱仪事业部也将在W4-0717一同展出产品。
★ 亮点抢先知：
便携式COMET L3D 2 5M三维光学扫描可随意移动至车间及现场直接进行检测，被测工件无需专门工装及夹具支架等。检测可获取零件全尺寸曲面数据，一台机器适合多种不同尺寸零件。
此外，蔡司光学家族中的经典系列O-INSPECT与O-SELECT也将悉数亮相，探索多功能复合式测量技术与一键式视像测量技术的未来之路。
ZEISS O-SELECT
ZEISS O-INSPECT
更多精彩，我们现场见！
（ 蔡司工业测量）
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