ZEISS三维扫描 | 探索测量的无限可能
在光学领域中，尤其是三维扫描方面，蔡司基于蓝光LED的COMET LƎD条纹投影测头，可为您提供卓越的测量解决方案。通过捕捉整个测量物件的表面信息，使操作员对被扫描的产品有更为清晰全面的认识。除此之外，针对类泡沫物体等可变性材料所设计的非接触式解决方案，可以更为高效地检测复杂的曲面。
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（ZEISS）
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