蔡司携多款测量设备亮相SIMM2014

【编者按】在SIMM2014展会上，德国蔡司将展出包括METROTOM CT、SPECTRUM、Contura G2、O-INSPECT、Contura G3等多款测量设备。

其中，METROTOM CT 扫描测量系统完美融合了几何量计量及断层扫描成像技术，通过数字图像重构实现三维精确可视化。METROTOM作为最佳的无损检测与测量方案，弹指间，完美呈现内部细节，轻松洞悉内部缺陷及孔隙率，快速查看部件内部装配及间隙状态，可大幅缩短产品开发周期及质量分析时间，提供形象直观的色彩偏差分析及多样化检测报告。不同于传统破坏性测量技术，METROTOM 让业界享受高效率测量所带来的无限可能性，让一切可见可测。适用于几何量三维尺寸测量、数模对比、缺陷分析、装配检测及逆向工程等应用领域，广泛应用于塑料、汽车、医疗及科研等行业对于工业CT的多元化应用要求。

SPECTRUM是蔡司最新推出的通用经济型三坐标测量机，适用于中小型工件的测量任务。四种测量范围可灵活选配，长度不确定度最高可达2.4+L/250 um。所有导轨中均使用四面环抱气浮轴承结构，能够实现流畅、精确、高速的三轴向CNC运动，来自四个方向的牢固支撑保证了其出色的测量重复性；集成了C99L控制柜的SPECTRUM减少了测量机整体占地面积；与之匹配的myCalypso 软件中50个最常见的测量任务已经被编辑成宏程序，用户可以根据工件轻松组合，创建需要的测量任务。在测量过程中，软件中简单直观的用户向导提供了清晰、上下文关联的指令，从而加快了测量和评估速度。采用蔡司专利的ZERODOR零膨胀光栅尺，使设备整体对温度不敏感，放松了对设备使用的要求和成本；该款测量机控制柜安装在底座上，易于使用和维护SPECTRUM可以与大多数Renishaw传感器（标准5针DIN）兼容，用户可针对应用范围选择适当的传感器。

Contura G2 RDS 和 Contura G2 Active，由基础机型升级到更灵活更高精度的机型，采用主动扫描技术，物超所值，非常适合中小型生产企业。Contura G2 RDS 配置 VAST XXT 扫描探头，可自由、快速旋转探针，扫描范围达到任何的角度位置。Contura G2 Active 具有自定心功能，可测量深孔元素，具有对尺寸、形状及位置的高可靠性测量。VAST的扫描技术使工件的形状检验可以最快的速度获得高品质测量结果，可及早发现加工过程中的变化，确保产品质量并将废品率降至最低。集成Navigator技术的VAST万能扫描探头能高速高精度测量单点及多点，在测量时间降低的同时可以高密度处理数据。由蔡司研发制造的玻璃陶瓷光栅尺，具有良好的温度稳定性，保证测量结果不受温度波动的影响。

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