O-INSPECT应用于真正三维测量的绝佳光学与接触式测量技术

　　应用于O-INSPECT中的每个组件皆体现了顶级的性能表现，完美的结合确保了最佳的效率。各类检测任务可于同一机器中实现及完成，基于O-INSPECT可省却多次不必要的重复检测，更重要的是，O-INSPECT简易、一致的操作理念可大大降低培训要求。

高端光学元件
·Discovery telecentric，卡尔-蔡司12倍变焦镜头
·CCD 摄像芯片
·照明单元：环形光，微形环形光，同轴光，激光导航及透射线。
·外部光源屏蔽装置
·选配共聚焦白光传感器实现快速三维曲面数据采集

配备三维连续扫描功能的接触式测量系统

·VAST XXT扫描测头系统适用于单点触测与扫描测量
·CNC自动化测针更换

智能设计
·配备固定桥框及移动式测量平台的桥式测量机
·多方位应用空间
·支持与夹具系统直接对接
·快速库位配置
·选配转台实现回转对称及柱体工件的快速测量

速度与精度
·高动态驱动技术
·自动驱动监控
·所有的行程轴使用精密滚珠轴承
·导轨误差补偿（CAA计算机辅助精度修正）

适用于车间应用
·全封闭导轨
·集成减振系统

软件界面友好
·基于CALYPSO对测量过程实现实时控制与评估
·测量程序，测量实际值及偏差体现于同一视图中。

O-INSPECT具有高灵活性的特殊优势

接触式测量　　　　　　　　　　　　　　光学式测量
·如若该特性无法以光学获取数据时，　　·当必须检测特别微细的结构时
例如，相关结构被遮挡。　　　　　　　　　·当接触方式会使被测材料变形时
·实现三维实体尺寸的精确测量　　　　　·当测量速度很重要时
 

四合一功能

卡尔-蔡司O-INSPECT完美结合了速度，顶级光学传感器的高分辨率及接触式测量系统的三维探测功能。
迄今为止，O-INSPECT实现了四类独立的测量系统功能：显微镜、投影仪、坐标测量机与轮廓测量仪。O-INSPECT实现了一台设备一次设定即可完成全部的测量任务及方案。
多功能性使得O-INSPECT成为医疗技术、塑料技术、电子与精密工程领域的理想检测方案。由于应用了密闭式导轨及集成了减震系统，O-INSPECT可直接于车间内应用。
 

　　投影仪   　　坐标测量仪    　　轮廓测量仪     　　显微镜

O-INSPECT 的光学系统

光学测量技术仅受特性的视觉识别程度所影响。这取决于多种因素：
·零件自身、其形状、颜色和表面质量
·光学检测系统的质量
·照明
O-INSPECT奠定了光学测量的基础：基于多功能与柔性的Discovery镜头，合适的照明系统及共聚焦白光传感器。换而言之，O-INSPECT体现了卡尔-蔡司高品质光学专业技艺。

Discovery 12x 变焦镜头
区别于行业内制造商普遍应用多个定焦镜头，O-INSPECT变焦镜头提供多达十种放大倍数可供自由选择与切换，其优点在于：由于无需更换镜头，使得测量速度更快，各类放大倍数条件下均可保证最佳的重复再现性。与此同时，对于照明光强与聚焦技术Discovery亦体现了无可比拟之优势。

远心技术与照明光强
应用于测量技术的理想镜光须满足两个条件：
基于与被测对象距离非相关的远心镜头技术，同时确保于任何放大倍数条件下均可获取清晰及精准的图像特性。传统的远心镜头通常功能有限，其Z向探测精度较低。Discovery不同之处在于，作为绝对远心技术，处于光强重要性略低的中间倍率等级上。

可选配共聚焦白光传感器
对于非接触三维微细结构的高效测量，推荐选用白光传感器，该传感器基于色阶共聚焦原理，其优点在于无需移动任何机械组件即可实现深度数据的快速采集。

适用于平滑及无光泽表面
白光传感器可用于测量反光或透明的对象，例如：玻璃，亦可检测高吸收率，无光泽表面。

金属容器的拐弯位置　　　　　　　　金属工件

罗纹结构侧视图　　　　　　　　　　塑料外罩

照明系统
光学测量基于灰度值分析识别技术，对比度与边缘的识别率越高，则可获取更精确的测量值。理想的照明类别取决于被测零件或特性：轴向或侧向照明、垂直或倾斜的照明角度，亦或由底部进行照明。O-INSPECT配备全面的照明单元确保其适用于所有的测量任务。

      
同轴光照明      　　　　　轴向激光导航    　　　环形光照明

大型环形灯、白光传感器

用于侧向照明的大功率环形光
大功率环形照明提供全方位的侧向照明，实现三维特征的更强对比，八段环形红光与蓝光均可自由调节及支持CNC模式下自动开闭，颜色选择功能对于彩色工件而言极其重要。

更深照明角度的微型环形光
微型环形光包含四段蓝色及四段红色LED，配合中心均布改善深层特征的识别能力。

同轴光照明
同轴光以直角垂直照射于工件，对于深孔而言，为尺寸及形位公差的重要照明光源。

轴向激光导航
镜头中心的激光功能可大大简化编程过程的导航定位。

透射光
透射光提供最佳的对比度，用以测量开口或外边缘，例如测量冲压件或结构复杂的微细工件。

业界真正意义的扫描测量系统

O-INSPECT配备灵活，快速及高精度的VAST XXT三维连续扫描测头，不仅可实现单点触测，更可高效精确测量各类形状误差。

VAST XXT支持30-125 mm测针，可实现深孔的快捷测量，40 mm的侧向测针可确保最佳的柔性，VAST XXT甚至可在不更换测针的条件下实现复杂工件快速测量。

接触式扫描测头与光学传感器快捷自动切换
O-INSPECT支持CNC运行中的测头自动切换，甚至于一个检测元素中亦可实现。即便手动切换，该测针亦可自动识别，无需耗时的重复校准。

   
测针库位架      　　　　　　　　　　基于扫描技术的平面度检测

眼见为实—— CALYPSO 可视化功能

O-INSPECT与CALYPSO测量软件提供全新的可视化功能，可于同一视图中同时显示视像，CAD模型及测量值，同时可查看实际状态，理论状态及偏差，更快捷诠释测量结果。

人人都会用的最佳软件
O-INSPECT结合高品质的测量软件平台体现更多的优势，通过CALYPSO软件同时实现与其他蔡司测量机的程序共享，CALYPSO为广泛的应用领域提供了通用，直观的操作理念。因此，CALYPSO可确保快速，简便地以同一测量策略完成所有的测量任务。

CAD 表面模型和摄像图像、CAD 线条模型和摄像图像、一个视图同时展现CAD模型、摄像图像、测量策略与偏差信息。

夹具装载系统

O-INSPECT夹具装载系统可于机器外围进行工件装夹准备，优势在于可最大化减少占用机器的时间，该夹具装载系统支持所有的测量策略：单传感器或复合式测量，以最大化发挥传感器的利用率。

承重平板
承重平板的三个承载元件安装于设备平台上，安装简易并可由客户自行完成。承重平板提供库位架快速接口，同时在设计阶段即充分考虑了最小的使用高度。

支撑框架
支撑框架是玻璃平板及三明治孔板的理想基座，可放置于三个承重元件上方，通过两个调节螺栓可于XZ及YZ方向上进行调节，通过整体框架结构可实现工件的快捷组合。

玻璃平板
玻璃平板用于反射及透射光学测量，更重要的是简化了任意形状样品的测量，并可将样品放置于安装座与玻璃平板之间，例如，可以最少的工作量完成垫片的水平找正。

三明治孔板
高耐磨硬质阳极氧化处理铝合金技术支持所有的接触与反射光条件下的光学测量，此三明治孔板用于CARFIT CMK夹具组件，整个框架结构或三明治孔板可灵活切换以更换工件。

多传感器检测

多传感器检测配合通用校准标件与相关控制及评估软件，可监控配备接触式或光学传感器的坐标测量机。

应用
关于根据 DIN EN ISO 10360 和 VDI/VDE 2617 对坐标测量设备的检测：
根据DIN ISO 10360与VDI/VDE 2617对坐标测量机验收。
测头系统的探测误差
·测头系统的扫描误差
·长度测量示值误差
·基于接触式与光学方式对探测误差与长度测量示值误差验收

标样说明
标样主体采用耐变形基体与高精密标准件。
·用于接触式测量与光学测量的特殊调节环规，直径16mm.
·一个精密的陶瓷球体，直径 25mm
·两个块规，长度分别为50mm与200mm
·一根200mm长玻璃线纹尺

试件的标定
DKD(德国校准服务)校准:
·调节环规
·精密球体
·两个块规
·玻璃线纹尺

软件
CALYPSO坐标测量机控制与评估软件：
·自动化测量运行
·符合标准的评估
·根据监控系数对测量结果进行附加分析。
·测量结果的统计分析

用户支持
可根据要求提供标样的安装与培训。

可选配转台 

用于全方位的光学测量
O-INSPECT配备可编程转台实现转动的条件下测量所有侧面上的各个特性。

扩展阅读：蔡司O-INSPECT复合测量机技术与应用专题

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