Metrotomography®,融合了计量学和层析X射线摄影法,开创了不可预期的可能性。在此之前只能检测或根本不能进行质量保证的场合,现在可以进行高精度和无损测量。
断层扫描分析如同在工件内部测量:所有采集的数据可用于质量保证的范围和进行评估。无损检测技术,例如:装配检查、损伤和气孔分析、材料检验或损坏检查,如同测量评估、备用工程应用或几何比较一样。
重要特征
深思熟虑的设计
● 三维计算机断层扫描分析带有微聚焦X射线管和探测器
● 用于装夹工件的转台和蔡司的转移器
安全技术
● 全防护测量间
● 满足了根据DIN 54113 标准的用于机构类型许可全封闭仪器的防护射线条例(0.5 mr/h在外罩)
● 根据人机工程学优化的设计(专用上料位置)
机器技术
久经考验的线形技术
● 自加工的精密机械组件
● 导轨误差补偿(CAA计算机辅助精度修正)
● 蔡司原装转台,配有直接驱动
● 自产的气浮轴承
● 分辨率:0.036″
● 最大负载量(中心):500 N
传感器
微焦源X射线管
● 高电压:10―225 keV
● 电子管电流:5―3000μA
● 目标功率:最大320W
● 反射角:50°锥角
● 有功发射角:30°锥角
● 焦点尺寸:>7μm平板式探测器
● 带有超高敏感性的探测系统
● 1024×1024像素每400μ㎡用于三维CT
● 低失真,数字式无线电复制
在此之前或许不能检测,或只能通过耗费时间和成本的接口进行检测的场合,现在断层扫描分析可以快速明确地检测出误差。
尺寸
测量范围
ø ×Z[㎜]
METROTOM 300×300
L=测量长度以㎜为单位
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