芯片半导体在电子领域应用案例

近年来随着技术的发展,电子元器件、封装和引线等都变得更小,印刷电路板具有更高的密度,包含了更多的隐藏焊点、埋孔和盲孔。传统检测方法包括光学、热成像等都已经无法满足当代电子检测需求。与传统检测相比,X射线能够穿透外部封装并检测内部结构质量,这也是X射线检..
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由于选用短焦距的凸透镜,该干涉系统可以做得很小并可以获得良好的干涉效果。半导体激光器本身发散角较大,每路光束在屏幕上都形成一个光斑,调整两束光斑重合,在光场中即可得到干涉。干涉条纹可用光敏器件检出并由后继电路进行处理。
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